KAIST, 100배 정밀한 빛 측정 센서 개발 성공
KAIST, 100배 정밀한 빛 측정 센서 개발 성공
  • 이웃집과학자
  • 승인 2024.08.24 21:49
  • 조회수 1054
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자율주행에서 물체의 모양과 위치를 정확히 추적할 수 있는 기술이 필요합니다. 또한, 생물학적 세포, 박막, 미세구조 및 기타 유사한 물질들을 화학 염색 없이도 상세하고 높은 대비로 관찰할 수 있는 기술은 의료 및 산업 현장에서 중요합니다. 하지만 기존 기술들은 간섭계를 사용하기 때문에 크고 복잡한 장비가 필요하고 주변 환경에 민감해 실제 현장에서의 활용이 제한됐습니다. KAIST 연구진이 이러한 한계를 극복하고 다양한 응용 분야에서 활용할 수 있는 신개념 빛 측정 기술을 개발해서 화제인데요.

 

KAIST는 바이오및뇌공학과 장무석 교수 연구팀이 세계 최초로 메타표면으로 성능이 대폭 향상된 파면 센서를 이용해 복잡한 물체의 단일 측정 위상 이미징 기술을 개발했다고 20일 밝혔습니다. 메타표면이란 나노미터에서 마이크로미터 스케일의 기하학적 구조를 가지는 나노 구조체들로 이뤄진 평면으로, 각 나노 구조체의 모양에 따라 매우 미세한 규모에서 전자기파의 전파 경로, 위상, 편광, 진폭 등을 제어할 수 있습니다.

 

파면은 파동이 동일한 위상을 가지고 있는 지점들을 연결한 면입니다. 바다에서 보이는 파도는 일상생활에서 볼 수 있는 파면의 한 예죠. 파도가 장애물을 만나거나 환경이 달라지면 모양이 바뀌듯, 빛의 파면도 물체를 통과하거나 반사될 때 물체의 모양에 따라 변합니다. 따라서 물체를 통과하거나 반사된 빛의 파면을 분석하면, 물체에 의해 변화되는 빛의 위상 정보를 얻을 수 있습니다.

a. 물체에 의한 파면 변화. 빛이 물체를 투과하거나 반사될 때, 빛의 파면이 변화된다. b. 샥-하트만 파면센서에서 렌즈 배열의 작동 원리. 각 렌즈에 입사하는 파면의 경사도에 따라 초점의 위치가 달라진다. 출처: KAIST
a. 물체에 의한 파면 변화. 빛이 물체를 투과하거나 반사될 때, 빛의 파면이 변화된다. b. 샥-하트만 파면센서에서 렌즈 배열의 작동 원리. 각 렌즈에 입사하는 파면의 경사도에 따라 초점의 위치가 달라진다. 출처: KAIST

샥-하트만 파면 센서(Shack-Hartmann wavefront sensor)는 렌즈 배열과 카메라가 결합된 구조로, 각 렌즈에 입사하는 파면의 경사도에 따라 달라지는 초점의 위치를 분석해 입사된 빛의 파면을 복구합니다. 샥-하트만 파면 센서는 간단한 구조와 높은 견고성으로 천문학 및 광학 시스템 평가 등 산업 현장에서 널리 사용되고 있습니다. 하지만, 기존 샥-하트만 파면 센서는 마이크로 렌즈 크기 때문에 공간해상도가 1 mm2 당 100개 수준으로 제한되어 복잡한 물체의 위상 이미징이 불가능했습니다.

 

연구팀은 나노 공정 기술을 통해 제작된 메타표면을 이용해 이 문제를 해결했습니다. 이번 연구에서 메타표면 기술로 제작된 메타 렌즈를 활용해 시판되고 있는 샥-하트만 파면 센서보다 약 100배 높은 공간해상도를 가지는 메타 샥-하트만 파면 센서를 개발했습니다. 개발된 메타 샥-하트만 파면 센서는 높은 공간해상도를 이용해 기존 샥-하트만 파면 센서로는 측정이 불가능했던 복잡한 구조체의 위상 이미지를 얻는 데 성공했습니다.

a. 메타표면으로 향상된 샥-하트만 파면센서 기술. 샥-하트만 파면 센서의 각 렌즈가 만드는 초점을 분석하여 파면을 복구할 수 있다. b. 기존 샥-하트만 파면센서에서 사용되는 마이크로 렌즈보다 훨씬 작은 메타렌즈를 활용함으로서 공간해상도를 100배 향상시킬 수 있다. c. 위상 이미지 측정 결과. 출처: KAIST
a. 메타표면으로 향상된 샥-하트만 파면센서 기술. 샥-하트만 파면 센서의 각 렌즈가 만드는 초점을 분석하여 파면을 복구할 수 있다. b. 기존 샥-하트만 파면센서에서 사용되는 마이크로 렌즈보다 훨씬 작은 메타렌즈를 활용함으로서 공간해상도를 100배 향상시킬 수 있다. c. 위상 이미지 측정 결과. 출처: KAIST

또한 연구팀은 메타 샥-하트만 파면 센서를 통해 3차원 위치를 추적했는데요. 이 과정에서, 메타 샥-하트만 파면 센서가 거의 모든 가시광 영역에서 작동하며, 기존 샥-하트만 파면 센서보다 약 10배 큰 시야각을 가지는 것을 확인했습니다. 이 기술을 활용하면 넓은 영역에서 물체의 3차원 위치의 추적이 가능합니다.

메타 샥-하트만 파면센서의 응용 분야. 출처: KAIST
메타 샥-하트만 파면센서의 응용 분야. 출처: KAIST

연구를 주도한 고기현 박사는 “메타 샥-하트만 파면 센서는 기존 기술보다 견고하고 작은 크기를 가지는 장비로서 초기 질병 진단, 제조 공정의 결함 검출과 자율 주행 등 다양한 분야에 적용될 수 있을 것으로 기대된다”고 밝혔습니다. 또한 "메타 샥-하트만 파면 센서는 기존 기술의 한계를 극복하고, 위상 이미징 기술의 새로운 기준을 세웠다”며, “이번 연구에서는 메타 샥-하트만 파면 센서의 개념 검증에 집중했고, 향후 메타표면의 우수한 빛 조작 능력을 활용해 초소형·다기능 메타 파면 센서를 개발하는 데 주력할 것이다”라고 전했습니다.

 

연구 결과는 국제 학술지 `라이트:사이언스&어플리케이션즈(Light:Science&Applications)'에 지난 8월 12일 字 출판됐습니다.

논문명: Meta Shack-Hartmann wavefront sensor with large sampling density and large angular field of view: Phase imaging of complex objects


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